吴从炘,卜庆营.强拓扑的可赋范化与可度量化[J].数学研究及应用,1994,14(2):235~238
强拓扑的可赋范化与可度量化
Normedness and Metrizability of Strong Topology
投稿时间:1991-09-27  
DOI:10.3770/j.issn:1000-341X.1994.02.016
中文关键词:  矢值序列空间  强拓扑  可赋范化  可度量化.
英文关键词:
基金项目:
作者单位
吴从炘 哈尔滨工业大学数学系 
卜庆营 哈尔滨工业大学数学系 
摘要点击次数: 2289
全文下载次数: 1573
中文摘要:
      作者之一在[1,2]中就序列空间Λ而言,讨论了关于强拓扑β(Λ,Λ×)的可赋范化与可度量化问题,并给出了它的一些特征。本文在更广泛的序列空间一矢值序列空间Λ[X]上,讨论了Λ[x]关于强拓扑β(Λ[X],Λ[X]×)的可赋范化与可度量化问题,同时给出了它的一个特征.
英文摘要:
      One of the authors[1,2] discussed the normedness and metrizability of sequence spaceΛwith respect to the strong topology β(Λ,Λ*). In this paper, we discuss the normednessand metrizability of vector-valued sequence space Λ[X]with respect to the strong topologyβ(Λ[x],Λ[x]*).
查看全文  查看/发表评论  下载PDF阅读器